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ED400型 涡流测厚仪

ED400型 涡流测厚仪

ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳*氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳*氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

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ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳*氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳*氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

ED400型 涡流测厚仪

仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查, 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。自1993年开始生产以来,伴随着我国铝加工行业的成长,其自身也在不断改进和提高,目前,已生产了ED200型、ED300型和ED400型三代产品, ED400型涡流测厚仪是我公司新一代产品,其产品质量和测试精度达到国外仪器水平,其耐用性非常突出,超过国内外仪器。天星测厚仪以良好的质量,及时、优质、低费用的售后服务得到用户的广泛赞誉和认可,天星测厚仪在铝型材行业的市场占有率超过90%,成为该行业的名牌产品。


ED400型涡流测厚仪特点

量程宽:ED400型涡流测厚仪量程达到0~500 μm。

精度高:测量精度达到2%。

分辨率高:分辨率达到0.1μm。  

校正简便:只校正“0”和“50 μm”两点,即可在全量程范围内保证设计精度。  

基体导电率影响小:基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量误差不大于1~2 μm。     

可靠性提高:采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性提高。

稳定性提高:采用先进的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。

探头芯寿命长:采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。 


ED400型涡流测厚仪技术参数

测量范围:  0~500 μm

测量精度:  0~50 μm:±1 μm;50~500 μm:±2%

分辨率:  0~50 μm:0.1 μm;50~500 μm:1 μm;0~500 μm:1 μm(可选)

使用温度:  5~45℃

外形尺寸:  150 mm×80 mm×30 mm

重量:  280 g  


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Product

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